Recombination lifetime measurements in silicon /
Recombination lifetime measurements in silicon /
Ed. : Dinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, William M. Hughes
- West Conshohocken, PA : ASTM, 1998
- 392 p. : ill. ; 24 cm.
0803124899
Semiconductors--Testing--Congresses.
Service life (Engineering)--Forecasting--Congresses.
Electronic measurements--Congresses.
Chất bán dẫn Vô tuyến điện Đo điện tử
621.3815/2 / REC 1998
0803124899
Semiconductors--Testing--Congresses.
Service life (Engineering)--Forecasting--Congresses.
Electronic measurements--Congresses.
Chất bán dẫn Vô tuyến điện Đo điện tử
621.3815/2 / REC 1998
