TY  - BOOK
AU  - Bacher,Fred R.
AU  - Gupta,Dinesh C.
AU  - Hughes,William M.
TI  - Recombination lifetime measurements in silicon
SN  - 0803124899
U1  - 621.3815/2 21
PY  - 1998///
CY  - West Conshohocken, PA
PB  - ASTM
KW  - Semiconductors
KW  - Testing
KW  - Congresses
KW  - Service life (Engineering)
KW  - Forecasting
KW  - Electronic measurements
KW  - Chất bán dẫn
KW  - Vô tuyến điện
KW  - Đo điện tử
ER  -