Image from Amazon.com
Gate dielectric integrity : material, process, and tool qualification / Ed. : Dinesh C. Gupta, George A. Brown
Material type:
TextLanguage: English Publication details: West Conshocken, PA. : ASTM, 2000Description: xi, 169 p. : ill. ; 23 cmISBN: - 0803126158
- 621.381 GAT 2000 21
- TK7871.85. G32 2000
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Sách, chuyên khảo, tuyển tập | Phòng DVTT KHTN & XHNV Kho Tự nhiên tham khảo | 621.381 GAT 2000 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | AV-D1/01173 | ||
| Sách, chuyên khảo, tuyển tập | Phòng DVTT KHTN & XHNV Kho Tự nhiên tham khảo | 621.381 GAT 2000 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | AV-M1/00382 | ||
| Sách, chuyên khảo, tuyển tập | Phòng DVTT KHTN & XHNV Kho Tự nhiên tham khảo | 621.381 GAT 2000 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | AV-M1/00399 | ||
| Sách, chuyên khảo, tuyển tập | Phòng DVTT KHTN & XHNV Kho Tự nhiên tham khảo | 621.381 GAT 2000 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | AV-M1/00400 |
Browsing Phòng DVTT KHTN & XHNV shelves, Shelving location: Kho Tự nhiên tham khảo Close shelf browser (Hides shelf browser)
Conference on Gate Dielectric Integrity, held Jan. 25, 1999, San Jose, Calif.
Includes bibliographical references.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.
