Amazon cover image
Image from Amazon.com

Gate dielectric integrity : material, process, and tool qualification / Ed. : Dinesh C. Gupta, George A. Brown

Contributor(s): Material type: TextTextLanguage: English Publication details: West Conshocken, PA. : ASTM, 2000Description: xi, 169 p. : ill. ; 23 cmISBN:
  • 0803126158
Subject(s): DDC classification:
  • 621.381 GAT 2000 21
LOC classification:
  • TK7871.85. G32 2000
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Item type Current library Call number Copy number Status Date due Barcode
Sách, chuyên khảo, tuyển tập Phòng DVTT KHTN & XHNV Kho Tự nhiên tham khảo 621.381 GAT 2000 (Browse shelf(Opens below)) 1 Available AV-D1/01173
Sách, chuyên khảo, tuyển tập Phòng DVTT KHTN & XHNV Kho Tự nhiên tham khảo 621.381 GAT 2000 (Browse shelf(Opens below)) 1 Available AV-M1/00382
Sách, chuyên khảo, tuyển tập Phòng DVTT KHTN & XHNV Kho Tự nhiên tham khảo 621.381 GAT 2000 (Browse shelf(Opens below)) 1 Available AV-M1/00399
Sách, chuyên khảo, tuyển tập Phòng DVTT KHTN & XHNV Kho Tự nhiên tham khảo 621.381 GAT 2000 (Browse shelf(Opens below)) 1 Available AV-M1/00400

Conference on Gate Dielectric Integrity, held Jan. 25, 1999, San Jose, Calif.

Includes bibliographical references.

There are no comments on this title.

to post a comment.